涂層測(cè)厚儀WDT1000◎采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度； ◎可使用多種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02、)； ◎具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）； ◎具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)； ◎設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：

產(chǎn)品描述

涂層測(cè)厚儀WDT1000

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
●磁性法(F型測(cè)頭)當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

●渦流法(N型測(cè)頭)利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

涂層測(cè)厚儀WDT1000符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

涂層測(cè)厚儀WDT1000特點(diǎn)：

◎采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
◎可使用多種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02、)；
◎具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
◎具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
◎設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
◎可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
◎具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；
◎具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
◎可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
◎具有電源欠壓指示功能；
◎操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
◎具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
◎設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
涂層測(cè)厚儀WDT1000探頭技術(shù)參數(shù)

測(cè)頭型號(hào)		F400	F1		F1/90	F10	N1	CN02
工作原理		磁感應(yīng)					電渦流
測(cè)量范圍（um）		0-400	0-1250			0-10000	0-1250(銅上鍍鉻0-40um)		10-200
低限分辨力(um)		0.1	0.1			10	0.1		1
示值誤差	一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[3%H+1]				±[3%H+10]	±[3%H+1.5]		±[3%H+1]
	兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±[(1-3)%H+0.7]		±[(1～3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1.5]		-
測(cè)量條件	小曲率半徑(mm)	凸 1		凸1.5	平直	10	3		平直
	基體小面積的直徑(mm)	ф3		ф7	ф7	ф40	ф5		ф7
	小臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5	2	0.3		無(wú)限制

涂層測(cè)厚儀WDT1000測(cè)頭選用參考表

覆蓋層		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)			非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
基體		覆蓋層厚度不超過(guò)100μm		覆蓋層厚度超過(guò)100μm	覆蓋層厚度不超過(guò)100μm	覆蓋層厚度超過(guò)100μm
如鐵、鋼	被測(cè)面積的直徑大于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400μm		F1 型測(cè)頭 0～1250μm	F400 型測(cè)頭 0～400μm	F1 型測(cè)頭 0～1250μm
等磁性金屬		F1 型測(cè)頭 0～1250μm		F10 型測(cè)頭 0～10mm	F1 型測(cè)頭 0～1250μm	F10 型測(cè)頭 0～10mm
	被測(cè)面積的直徑小于30mm	F400 型測(cè)頭 0～400μm		F400 型測(cè)頭 0～400μm	F400 型測(cè)頭 0～400μm	F400 型測(cè)頭 0～400μm
				F1 型測(cè)頭 0～1250μm		F1 型測(cè)頭 0～1250μm
如銅、鋁、	被測(cè)面積的直徑大于5mm	N1 型測(cè)頭 0～1250μm			僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40μm
黃銅、鋅、錫
等有色金屬
塑料、印刷線(xiàn)路非金屬基體	被測(cè)面積的直徑大于7mm	-	-		CN02 型測(cè)頭10～200μm