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MiniTest-2100涂層測(cè)厚儀 MiniTest2100 上海五久自動(dòng)化設(shè)備有限公司

MiniTest-2100涂層測(cè)厚儀

MiniTest-2100涂層測(cè)厚儀
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  • 產(chǎn)品名稱:MiniTest-2100涂層測(cè)厚儀
  • 產(chǎn)品型號(hào):MiniTest2100
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0.00 元
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簡(jiǎn)單介紹

MiniTest-2100涂層測(cè)厚儀 MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;

產(chǎn)品描述
MiniTest-2100涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀

測(cè)厚儀特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

MiniTest涂層測(cè)厚儀功能

型號(hào)
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
-
-
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
-
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)
-
-
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能
-
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
設(shè)置極限值
-
-
公英制轉(zhuǎn)換
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別*大*小值
-
-
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
組內(nèi)單值延遲顯示
-
連續(xù)測(cè)量模式中顯示*小值


MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭
量程
低端
分辨率
誤差
*小曲率
半徑(凸/凹)
*小測(cè)量
區(qū)域直徑
*小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無(wú)限制
φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
 CTG2200  CTG2300  Lpad H200  CL5  CL400  DM4E  Phasor XS  MIC20  MIC10  DM5E  E2EQX8X1M1J  E2EQX15X1M1J  E2EQX3D1M1TGJ  EQX7D1M1TGJ  E2EQX10D1M1TGJ  KEW2500  E2FMX1R5D1   KEWSNAP200  KEWSNAP 203  MODEL2608A  MODEL2805  KEW2200  MODEL2002PA  MODEL2002R  MODEL2007A  MODEL2017  MODEL2027  MODEL2031  KEW2040  KEW2046R  KEW2055  KEW2056R  MODEL2003A  MODEL2010  MODEL2033
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