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MiniTest-1100涂層測厚儀 MiniTest1100 上海五久自動化設(shè)備有限公司

MiniTest-1100涂層測厚儀

MiniTest-1100涂層測厚儀
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  • 產(chǎn)品名稱:MiniTest-1100涂層測厚儀
  • 產(chǎn)品型號:MiniTest1100
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簡單介紹

MiniTest-1100涂層測厚儀 MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;

產(chǎn)品描述
MiniTest-1100涂層測厚儀涂層測厚儀

測厚儀特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

MiniTest涂層測厚儀功能

型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
-
-
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
-
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補(bǔ)償一個常數(shù)(Offset)
-
-
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能
-
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲數(shù)值
設(shè)置極限值
-
-
公英制轉(zhuǎn)換
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別*大*小值
-
-
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
組內(nèi)單值延遲顯示
-
連續(xù)測量模式中顯示*小值


MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

探頭
量程
低端
分辨率
誤差
*小曲率
半徑(凸/凹)
*小測量
區(qū)域直徑
*小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
XS2FD421DC0F  XS2FD421GC0F  XS2FD421D80F  UFDX6  XS2FD421G80F  XS2FD422DC0F  XS2FD422GC0F  UFDZ4  XS2FD422D80F  XS2FD422G80F  E2EQX4X1  UFDZ6  UFDZ8  E2EQX8X1  E2EQX15X1  UFDX5  E2EQX3D1  E2EQX7D1  UFDZ6W  E2EQX10D1  E2EQX3D1M1GJ  E2EQX101M1GJ  UFDZ6C  E2EQX4X1M1J  UFDMINI  UFD3000  Upad X100E  Upad X100  Upad X200  Upad X300  Cpad T200  Cpad T210  Cpad T220  CpadT100  CTG2000  CTG2100
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