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HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀HC-200 HC-200 上海五久自動(dòng)化設(shè)備有限公司

HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀HC-200

HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀HC-200
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  • 產(chǎn)品名稱(chēng):HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀HC-200
  • 產(chǎn)品型號(hào):HC-200
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0.00 元
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簡(jiǎn)單介紹

HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀HC-200 HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式涂層測(cè)厚儀,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)必備的儀器。

產(chǎn)品描述
HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀HC-200涂層測(cè)厚儀
功能用途:
HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式涂層測(cè)厚儀,它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)必備的儀器。

主要特點(diǎn)
u采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚;
u具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
u具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(App1);
u設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
u可采用兩種方法對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
u具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值;
u具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;
u可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析;
u具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖;
u具有與PC機(jī)通訊的同能:可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī),以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理;
u具有電源欠壓指示功能;
u操作工程有蜂鳴聲提示;
u具有錯(cuò)誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示;
u設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;
主要特點(diǎn)
u采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚;
u具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
u具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(App1);
u設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
u可采用兩種方法對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
u具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值;
u具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;
u可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析;
u具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖;
u具有與PC機(jī)通訊的同能:可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī),以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理;
u具有電源欠壓指示功能;
u操作工程有蜂鳴聲提示;
u具有錯(cuò)誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示;
u設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;
主要特點(diǎn)
u采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚;
u具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
u具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(App1);
u設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
u可采用兩種方法對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
u具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值;
u具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;
u可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析;
u具有打印功能:可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖;
u具有與PC機(jī)通訊的同能:可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī),以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理;
u具有電源欠壓指示功能;
u操作工程有蜂鳴聲提示;
u具有錯(cuò)誤提示功能,通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示;
u設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;
規(guī)格參數(shù)
測(cè)頭類(lèi)型 F N
工作原理 磁感應(yīng) 渦流
測(cè)量范圍 0~1250μm 0~1250μm
銅上鍍鉻(0~40μm)
低限分辨率 0.1μm(0-100)/1μm(100-1250) 0.1μm(0-100)/1μm(100-1250)
示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn) ±(3%H+1) ±(3%H+1.5)
二點(diǎn)校準(zhǔn) ±[(1~3%)H+1] ±[(1~3%)H+1.5]
測(cè)試條件 基體*小曲率 凸面:1.5mm/凹面:3mm 凸面:1.5mm/凹面:3mm
基體*小面積 Φ7 Φ5
基體*小厚度 0.5mm 0.3mm
探頭選用參考表
基體覆蓋層 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂料塑料、搪瓷和陽(yáng)極化處理等) 非磁性的有色金屬覆蓋層如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等
如鐵、鋼等磁性金屬 F型探頭
測(cè)量范圍:0μm~1250μm
F型探頭
測(cè)量范圍:0μm~1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 N型探頭
測(cè)量范圍:0μm~1250μm
N型探頭僅用于銅上鍍鉻
測(cè)量范圍:0μm~40μm
測(cè)頭類(lèi)型 F N
工作原理 磁感應(yīng) 渦流
測(cè)量范圍 0~1250μm 0~1250μm
銅上鍍鉻(0~40μm)
低限分辨率 0.1μm(0-100)/1μm(100-1250) 0.1μm(0-100)/1μm(100-1250)
示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn) ±(3%H+1) ±(3%H+1.5)
二點(diǎn)校準(zhǔn) ±[(1~3%)H+1] ±[(1~3%)H+1.5]
測(cè)試條件 基體*小曲率 凸面:1.5mm/凹面:3mm 凸面:1.5mm/凹面:3mm
基體*小面積 Φ7 Φ5
基體*小厚度 0.5mm 0.3mm
四、探頭選用參考表
基體覆蓋層 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂料塑料、搪瓷和陽(yáng)極化處理等) 非磁性的有色金屬覆蓋層如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等
如鐵、鋼等磁性金屬 F型探頭
測(cè)量范圍:0μm~1250μm

 

F型探頭
測(cè)量范圍:0μm~1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 N型探頭
測(cè)量范圍:0μm~1250μm
N型探頭僅用于銅上鍍鉻
測(cè)量范圍:0μm~40μm
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產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字:  HC200  HC-200  數(shù)字式涂層測(cè)厚儀  HC200數(shù)字式涂層測(cè)厚儀  
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